Sapphire D-6432DFT设备
首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号，以及扫描/功能性测试和DC
数测量。D-6432DFT的密度比同类产品高出4倍，可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法，助其降低高速半导体器件的总体成本并缩短上市时间。
Sapphire D-6432DFT有效地应用了创新的远端环路技术，既具有可测性设计的灵活性，又有功能测试所具备的深层诊断能力。通过将待测器件置于高性价比的智能测试设备通道中，延
了反馈路径，也首次实现了高速总线在生产级的测试。与以往那种投资多台设备测试少量通道的碎片式方法不同，D-6432DFT集成了广泛的功能，可在单台设备上测试多达16个通道。其优势包括：
Sapphire D-6432DFT设备现已投放市场。
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